Mesure de la distance critique

[jefourcade]

Maintenant, le Tr ou le SPL mesuré (ou estimé par tir de rayon) englobe les réflexions précoces au champ diffus. De facto, cela entraîne un artefact, car la distance critique n’est définie que par rapport au direct et au diffus. En passant par la mesure du SPL, on surestime l’intensité du champ diffus et on sous-estime systématiquement la distance critique ce qui va dans le sens de la "sécurité" pour l'audiophile.

Tout à fait d'accord. Dans une pièce correctement traité où les premières réflexions sont supprimées l'évaluation de la distance critique par la mesure devrait donc être plus juste et les valeurs calculées par mon tableur et la formule usuelle avec Tr, V et Q proches.

Je vais faire une version de mon logiciel qui ajuste automatiquement la pente du champ réverbéré (paramètre n). Le problème devenant non linéaire, un tableur n'est plus adapté. Quitte à faire un logiciel dédié autant que celui-ci lise directement une courbe de réponse faite par un logiciel comme REW par exemple. Ca évitera la saisie fastidieuse des valeurs de SPL.

Merci pour vos simulations et vos commentaires.

Jean